科研级明暗场正置金相显微镜XJ-59C-2采用了无限远校正光路设计,落射照明器、无限远明暗场长距平场物镜和大视野目镜的配置。具有外形美观,图像清晰度高、操作方便等特点,同时配有暗场装置及偏光装置,可实现明暗暗场、偏光、微分干涉(选购)观察,是一款多功能材料检测显微镜。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50X-500X
产品特点:
1、采用了无限远校正光路设计,视场清晰。
2、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能。
3、采用无限远半复消长距明暗场物镜及视场高眼点大视野目镜。
4、 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层
5、各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像。
产品应用:
1、分析金属、矿相内部结构组织。
2、晶圆、PCb 板、半导体芯片、LCD 、LED 、 粒子爆破等工业检查,
3、观察材料表面的某些特性分析金属、矿相内部结构组织。