叶蛇纹石（成分为Mg3-xSi20（0H）。-2x）（晶体显微镜）的波状结构是调幅结构的具体表现，这是由于八面体氢氧层与四面体硅氧层间结构的不相称（差异）引起的（图6.17）。这些正弦波状的畸变区域的宽度常大于4nm。在高分辨率透射电子显微镜下，可以很容易观察到这种结构的图像。图6.18显示了叶蛇纹石的规则调幅结构，其调幅波长为4.5~5nm，调幅方向是垂直于c”轴的黑带。
上海蒲柘光电金相显微镜
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